当前位置: 首页 > 工业控制产品 > 机箱与机柜系统 > 机柜照明灯

类型分类:
科普知识
数据分类:
机柜照明灯

特安斯TASI675导磁型膜厚计操作说明

发布日期:2022-04-26 点击率:66

简介

此膜厚计为一只手持式、使用简易、3?位數(1999 讀值)、设计坚实之导磁或非导磁兩用式膜厚计,专门设计为可单手操作使用。此膜厚计但有显示器背光阅讀功能,供黑暗中讀取显示器讀值,并有自动讀值锁定功能及自动关机功能,以延长电池寿命。

操作须知

?在使用膜厚计前,请阅讀操作安全须知及使用手册。

?请勿将膜厚计靠近任何会产生强力磁场或者静电场的装置,此举可能会导致膜厚计故障。

?请勿在暴露于腐蚀性或者可燃性气体下使用膜厚计。此举可能会破坏膜厚计或者产生爆炸。

?请勿在直接受到日光照射或者结露的环境下使用膜厚计,此举可能会导致膜厚计发生变形或者导致绝缘层被破坏,或者导致膜厚计特性超出规格。

? 请 勿 将 膜 厚 计 放 置 于 高 温 的 物 体 旁(70°C/158°F)。此举将会破坏膜厚计的外壳。

?当膜厚计暴露在显著的环境温度变化时(热变冷或冷变热),请将膜厚计静置 30 分钟等待温度稳定后再开始量测。

?若膜厚计連续量测厚度超过 1 分钟的话,量测厚度的精确度将会下降。但是膜厚计的量测结果仍然会在指定的精确度之内。

?因显著的环境温度变化导致感测器前端结露,请静置 10 分钟,待结露消失再开始量测。

?膜厚计并未被设计成可以防水或者防尘的架构,因此请勿在满是灰尘的环境或者潮湿的环境使用膜厚计。

?量测时,务必确认感测器前端紧贴待测物且不会晃动,以提高量测值之准确性。

?量测时请确保底材与镀膜之间无气泡存在。

? 底材归零校正 : 必须在每次量测时实行此动作 。

? 兩点校正:必须在常用测试点实行此动作以增加量测的准确度。

规格

一般规格显示器:3?位數的液晶显示器(LCD)最大显示值为1999。

低电池电量指示:当“ ”显示的话,表示电池电量低于操作时所需的电量。

量测速率:1 次/每秒。

操作环境:32°F至122°F(0°C至50°C),相对湿度小于75% RH的环境下。

储存温度:-4°F至140°F (-20°C至60°C),相对湿度小于80%RH,电池从膜厚计移除的狀态下。

自动电源关闭:30秒。

待机时电源损耗:<15uA。使用电池:标准9V电池(NEDA 1604,IEC 6F22006P)。

电池寿命:碳锌电池约可連续使用9小时(显示器背光均在使用的情况下)。

尺寸:14.8公分(高) x 10.5公分(宽) x 4.2公分(厚)。

重量:约157克(含电池)。

特安斯TASI675导磁型膜厚计可量测底材种類:导磁金属(铁、钢)及非导磁金属(铜、铝、锌等)

电气规格

厚度量测范围:0 至 40.0mils (0 至 1000μm)。

显示解析度:0.1mils/1μm。

准确度:

±4dgts 于 0 至 7.8mils

±10dgts 于 0 至 199μm

±(3% + 4dgts) 于 7.9mils 至 40mils

±(3% + 10dgts) 于 200μm 至 1000μm

温度系數:操作环境温度> 28°C(82.4°F)或<18°C

(64.4°F)时,每增减1°C(°F),规格增加为讀值之0.1倍。

反应时间:1 次/每秒。

名词定义

名词定义

按键说明

校正

两点校准

操作流程

维护事项


下一篇: PLC、DCS、FCS三大控

上一篇: 索尔维全系列Solef?PV