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浅谈存储器芯片封装技术的挑战

发布日期:2022-10-09 点击率:71

【导读】存储器想必大家已经非常熟悉了,大到物联网服务器终端,小到我们日常应用的手机、电脑等电子设备,都离不开它。作为计算机的“记忆”装置,其主要功能是存放程序和数据。一般来说,存储器可分为两类:易失性存储器和非易失性存储器。其中,“易失性存储器”是指断电以后,内存信息流失的存储器,例如DRAM(动态随机存取存储器),包括电脑中的内存条。

 

存储器想必大家已经非常熟悉了,大到物联网服务器终端,小到我们日常应用的手机、电脑等电子设备,都离不开它。作为计算机的“记忆”装置,其主要功能是存放程序和数据。一般来说,存储器可分为两类:易失性存储器和非易失性存储器。其中,“易失性存储器”是指断电以后,内存信息流失的存储器,例如DRAM(动态随机存取存储器),包括电脑中的内存条。而“非失性存储器”是指断电之后,内存信息仍然存在的存储器,主要有NOR Flash和NAND Flash两种。

 

存储器的发展趋势

存储器作为电子元器件的重要组成部分,在半导体产品中占有很大比例。根据IC Insights统计,即使全球市场持续受到COVID-19的影响,存储产品的年增长率仍将突破12%,达到124.1B$,并且在数据中心和云服务器应用上发展巨大。根据其预测,在不久的将来,存储的需求将保持10.8%的增长率,同时均价也将以7.3%的年增长率逐年上升,将成为芯片行业最大增长点之一。

 

浅谈存储器芯片封装技术的挑战

 

虽然,大众普遍对于存储器已有初步认知,但对于其制造流程还是不甚了解。根据产业链划分,存储器制造流程的核心环节主要包括四个部分,即IC设计、芯片制造、芯片封装、成品测试。其中芯片封装与成品测试属于芯片制造的最后环节,也是决定着产品是否成功的关键步骤。长电科技具备核心封测技术和自2004年以来的大量生产经验,能有效把控存储封装良品率,助力存储产品迅速发展。

 

目前全球存储器封装技术几经变迁,封装工艺逐渐由双列直插的通孔插装型转向表面贴装的封装形式,其中先进的封装技术是发展主流,包括晶圆级封装(WLP)、三维封装(3DP)和系统级封装(SiP)等。存储器和终端厂商在成本允许的条件下,采用先进封装技术能够提升存储性能,以适应新一代高频、高速、大容量存储芯片的需求。

 

长电解决方案迎击挑战

存储器的封装工艺制程主要分为圆片超薄磨划、堆叠装片、打线、后段封装几个环节。其中,“圆片磨划”是存储技术的3大关键之一,其主要目的是硅片减薄和切割分离。这对于存储封装的轻量化、小型化发展十分重要,然而更薄的芯片需要更高级别的工艺能力和控制,这使得许多封装厂商面临着巨大的挑战。

 

翘曲和碎屑

随着芯片的厚度越薄,芯片强度越脆,传统的磨划工艺很容易产生芯片裂纹,这是由于传统机械切割会在芯片中产生应力,这将会导致芯片产生一些损伤,如侧崩、芯片碎裂等,而减薄后的圆片,厚度越小,其翘曲度越大,极易造成圆片破裂。

在此环节,长电科技摒弃了对芯片厚度有局限性的传统磨划工艺,根据金属层厚度与圆片厚度的不同,分别采用DAG(研磨后划片)、SDBG(研磨前隐形切割)、DBG(先划后磨)等不同的工艺技术。

 

DBG工艺是将原来的「背面研磨→划片」的工艺程序进行逆向操作,即:先对晶片进行半切割加工,然后通过背面研磨使晶片分割成芯片的技术。通过运用该技术,可最大限度地抑制分割芯片时产生的侧崩和碎裂,大大增强了芯片的自身强度。

 

浅谈存储器芯片封装技术的挑战

 

而SDBG则是一种激光切割方法,与刀片切割不同,这种方法不会产生机械振动,而是在芯片内部形成变质层之后,以变质层为起点进行分割,最后通过研磨将变质层除去。因此,使用隐形切割工艺时,刀痕宽度几乎为零,这对切割道进一步狭窄化有着很大的贡献。与通常的刀片切割工艺相比,单位圆片可获取的芯片数量有望增加。

 

浅谈存储器芯片封装技术的挑战

 

异物

当然,除了翘曲和碎裂的问题,在芯片封装过程中,任何一颗细小的颗粒都是致命的,它很可能会导致芯片的碎裂,从而使整个产品报废。因此,在生产过程中对于洁净度控制显得尤为重要。

 

针对这个问题,长电科技不仅为每台贴片机器配置HEPA过滤器,并且还为工作人员设置专用、密封的工具进行产品转移,以确保绝对洁净的作业环境。作为全球领先的半导体微系统集成和封装测试服务提供商,长电科技不仅在“圆片磨划”环节有良好的把控,对于整体的封装工艺都有着成熟的技术和先进的设备支持。针对超薄芯片的贴装,长电科技有着多条SMT产线、贴装超薄芯片夹具与先进的molding工艺,能够帮助客户提供最佳的封装解决方案。

 

浅谈存储器芯片封装技术的挑战

 

专用以及封装工具

存储芯片完成封装工艺之后,将进入测试阶段,这个阶段主要是为了确认芯片是否能够按照设计的功能正常运作,如DRAM产品测试流程包括了老化测试、核心测试、速度测试、后段工艺几个步骤,只有测试合格的产品才可以进行量产和出货。

长电科技在测试环节拥有先进的测试系统和能力,能够向客户提供全套测试平台和工程服务,包括晶圆凸点、探针、最终测试、后测试和系统级测试,以帮助客户以最低的测试成本实现最优解。目前长电科技已经和国内外存储类产品厂商之间有广泛的合作。其中,NAND闪存以及动态随机存储产品已得到海内外客户认可,并已经量产。

 

随着芯片不断向微型化发展,工艺制程开始向着更小制程推进,已经越来越逼近物理极限。在此情况下,先进的封测技术是未来存储技术的重要发展方向。长电科技作为中国封测领域的龙头企业,在先进封测领域持续突破创新,致力于为客户提供优质、全面的服务,助力存储产业发展。

 

关于长电科技

长电科技是全球领先的半导体微系统集成和封装测试服务提供商,提供全方位的微系统集成一站式服务,包括集成电路的系统集成封装设计、技术开发、产品认证、晶圆中测、晶圆级中道封装测试、系统级封装测试、芯片成品测试并可向世界各地的半导体供应商提供直运。

 

通过高集成度的晶圆级WLP、2.5D/3D、系统级(SiP)封装技术和高性能的Flip Chip和引线互联封装技术,长电科技的产品和技术涵盖了主流集成电路系统应用,包括网络通讯、移动终端、高性能计算、车载电子、大数据存储、人工智能与物联网、工业智造等领域。在中国、韩国拥有两大研发中心,在中国、韩国及新加坡拥有六大集成电路成品生产基地,营销办事处分布于世界各地,可与全球客户进行紧密的技术合作并提供高效的产业链支持。

(来源:长电科技)

(来源:编译自EDN, 作者:长电科技)

 

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