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IC传感器

巴鲁夫 探测(1) | 通过传感器探测、收集和定位目标物体

发布日期:2022-05-11 点击率:57 品牌:巴鲁夫_Balluff

  • 关键词: 巴鲁夫 探测 传感器
  • 摘要:在自动化系统中,有众多方法来探测、收集和定位目标物体。您可以利用磁场、介电常数(物质的属性)、光和声波在1 mm直至60 m的距离内以非接触的方式探测金属、非金属、磁铁、固体和液体。

通过传感器探测、收集和定位目标物体

在自动化系统中,有众多方法来探测、收集和定位目标物体。您可以利用磁场、介电常数(物质的属性)、光和声波在1 mm直至60 m的距离内以非接触的方式探测金属、非金属、磁铁、固体和液体。

在运输过程中即使条件困难您也可以借助合适的传感器可靠地检测和检查部件。您可根据自己的要求选择电感式、光电式、电容式或超声波传感器

光电式和超声波传感器通常用于远距离探测目标 (> 50 mm)。电感式或电容式传感器更适合于离传感器较近的目标 (< 50 mm)。

传感器技术

根据应用范围,您可以使用不同的技术:

■电感式传感器用于检测近距离的所有金属目标

■电容式传感器用于检测近距离的几乎所有材料和液体的有无或料位

■光电式传感器分为漫反射传感器、镜面反射传感器或对射传感器,用于检测较远距离的几乎所有目标

超声波传感器用于检测较远距离的几乎所有目标

合适的产品

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