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示波器作为“工程师的眼睛”之应用案例

发布日期:2022-10-09 点击率:52

    又是一个和探头,接地相关的真实调试案例!

    有些电路本来没有问题,连接上探头就有问题了;有些电路本来有问题,接上探头又没有问题了。两种情况下的根源可能大不一样,但一定是有一个没有被挖出来的根源。

    来自西门子公司的李工和R&S的李工一起,追根溯源,搞明白了原来问题出在晶振的“来料不良”上。这令我想起有位老采购说的:最容易出问题的物料就三样:电源,晶振和接插件。在发现问题的过程中,我们可以看到示波器作为“工程师的眼睛”的价值。

    2014年7月份,我们启动了电能质量高端设备开发项目。这个项目的技术需求是采样点多,数据率高,算法复杂,数据存储量大,网络接口多,高级应用多等。面临这样的情况,我们通过大量分析和评估,决定新构建硬件平台来满足产品需求。通过对多家处理器进行分析?比对,最终一个全新的硬件架构出炉了:以双核CPU配上FPGA,Switch,DOM盘等来实现数据获取,传输,计算,存储,通信等功能。经过一番努力,很快我们的板卡打样回板,并完成了SMT,正式进入软硬件调试阶段。在完成小系统(CPU,DDR,Flash等)主要器件测试后,我们进入小系统外围器件的开发环节,在做SATA-DOM盘测试时,发现了DOM盘无法连接的问题。在软件工程师的配合测试下,很快定位出是差分晶振输出给CPU的差分LVDS参考时钟未能稳定锁定,导致控制器无法正常工作。在公司内部寻找测试高速信号的示波器,发现基本都是带宽很低的示波器,且不配有有源差分探头,根本无法看到波形,从而无法判断是原理设计问题,还是PCB,或器件焊接及其它问题,项目就此卡住了。接下来就是一顿满地找能用的示波器过程了,那个汗啊!

    真是赶巧,我们公司早准备配置高端示波器了,由于采购流程很长,一直处于在Tek,R&S,Agilent三家联系和产品评估中。通过我们的采购很快联系上这三家公司的销售,R&S是在联系之后,以最快的速度,率先给我们发来测试示波器样机的厂家,正是雪中送碳,久旱逢甘霖啊!拿到示波器测试样机的当天,我就快速拆封上电,准备信号测试了。由于之前一直用另外两家的示波器,初始使用R&S的示波器,其软件界面及操作按钮均不是很熟悉,操作起来相对生涩。经过简单摸索后,基本能做简单测试了,但是要进行高速信号测量还不能快速搞定,只能求助技术支持了。通过采购顺利联系上销售工程师-杨毓,在其帮助下,又快速联系上了技术支持工程师-李星。在李工的远程协助下,很快可以进行高速信号测量,并抓到了时钟波形。李工担心我这边搞不好,又在第二天上午赶到我们公司,进行现场培训指导。基于抓到的时钟波形,我们展开全面分析,李工深厚的技术知识,对我这个诡异问题的分析提供了重要思路。

    先是原理分析,初步结论是:硬件原理设计上不存在太多的问题。这是一个LVDS时钟晶振发出差分LVDS时钟后,通过交流耦合连到CPU侧(图)。

 

    原理上找不到问题,只能集中精力测量波形并进行详细分析了。通过R&S示波器,用有源差分探头(图1)和有源单端探头在CPU侧来捕获时钟输出波形(图2)。

    图1差分探头测得图

    图2单端探头测得图

    从图可知:时钟质量在CPU端差,信号差分摆幅不够,而且共模电压超出范围,且波形畸变严重。CPU侧的PLL针对这个输入时钟信号无法锁定,也是理所但然的。难道是PCB设计有问题?PCB走线的截图如下:

    图中:U2为差分晶振,晶振背面的C101和C102为交流耦合电容。PCB的走线为:线宽8mil,线间距16mil,差分等长控制在5mil,总线长1550mil(小于器件资料的2000mil)。

    再仔细分析PCB设计,满足器件资料的布局布线要求,且也符合多年高速设计经验。理论上应该不存在问题,怎么会有这么奇怪的波形呢?难道是CPU负载侧有问题?联系CPU的技术支持,通过对原理图和PCB分析,很快得到一些可能存在问题的信息:末端跨接电阻是否焊接,芯片接地是否正确等等。通过实验,依次排除这些因素。

    那么此时,只能进行全面信号测量详细分析了。首先是晶振外围电路测量。应用R&S的示波器,选择交流耦合测量方式,发现晶振的供电电源纹波很大,3.3V直流电的纹波达到100mv左右,由于这个供电来自DC/DC电源,存在这么大的纹波有可能导致晶振输出异常。飞线取LDO输出的3.3V(确认纹波小于10mv),再次测试发现PLL仍然不能锁定,CPU侧测试波形依然不符合LVDS信号标准。但是在测量过程中偶然发现一个异常,就是用R&S单端无源探头来测量晶振输出侧的信号电压时,发现PLL竟然锁上了。此时是将单端探头的接地线接在LVDS信号的负端,探针顶住信号正端。这是个什么情况,百思不得其解啊……完全颠覆了我们的认识了。现在开始怀疑,该差分晶振是否存在质量问题。

    那么接下来针对晶振,根据器件提供的厂家资料中描述的测试方式进行裸片供电测量。其图纸:(图3)

    图3推荐测试电路

    将晶振直接飞线供上3.3V的电,断开现有负载,在差分PN信号间跨接100欧电阻,再进行信号测量,发现晶振输出确实有问题,其差分信号和单端信号输出摆幅小,信号畸变严重(与图1和图2类似)。由此,基本可以得出结论:那就是晶振通过非正规途径购买的,其质量之差,唉,无语啊!根据上述测试情况,这里总结了有两个问题,分别制定验证解决方案:

    ?通过正规渠道,再购买差分晶振,准备测试;

    ?分析为什么在R&S示波器无源探头地线接到差分信号负端的情况,能使信号质量改善;

    针对方案二,模拟探头标明的电阻,电容分布参数,又进行了一些试验:例如负端飞线,通过串联电阻,电容等方式接地,均无法匹配探头底线接触的现象。后来仔细分析发现,我的单板供电直流稳压电源的输出电压的地线与市电电力线未共地(图4),即图中虚线未连接。此时,用万用表测试示波器探头的地线与直流源(-端)输出的GND之间,发现有个很小的电压压差。

    图4测试组网图

    当完成Earth共地后(接上虚线),采用下图5组网测试,此时PLL仍无法锁存,再用示波器探头的地线连接差分信号负极时,PLL也无法锁定了。

    图5工地测试组网图

    由此可见,这个问题与示波器及探头本身没有关系。通过分析发现:由于探头地接的是电力线准大地,与稳压电源输出地之间是浮空关系,存在一些电压差。此时得出结论,在当前不良的晶振负端接入某个幅度的直流电压时,相当于提高了差分晶振输入的共模电压,一定程度上改善LVDS信号的质量。因此,做了另外一个实验,通过将差分晶振负端飞线到1.2V电压上(图6),人为提供1.2V共模电压,这时发现PLL锁定成功,DOM盘正常工作了。

    图6差分信号负极飞线测试图

    此时用有源差分和有源单端探头测得波形:

    图7有源差分探头测得图

    图8有源单端测得图

    从上两张图可得:尽管PLL锁定了,但是还能看出P,N信号不是180度交叉的,共模电压也不对,但是此时的差分信号摆幅够大见图7,能够使LVDS的PLL工作。针对第一种方案,我们采购到了台湾某家公司的差分晶振,焊接完后,SATA-DOM直接就能稳定工作了,进一步验证了初始使用的差分晶振是存在质量问题的。当然,针对新的差分晶振,我们也进行了详细的波形测试图9和图10,发现指标与器件资料一致,且符合LVDS信号标准。且针对DOM盘进行读写文件压力测试,到目前为止工作正常,这个问题也得到了圆满的解决。

    图9有源差分探头测得图

    图10有源单端测得图

    在整个问题定位解决过程中,R&S示波器确实起到了”工程师眼睛”的作用,对高速被测信号的准确测量,并拿到想要的波形,给我们分析问题提供了有力的证据,方便迅捷的窗口界面触摸操作,大大提升了测量的速度

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