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A/B 扫描高精密超声波测厚仪PVX

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更新日期:2022-10-09    浏览次数:126    下载次数:0

A/B 扫描高精密超声波测厚仪PVX

A/B 扫描高精密超声波测厚仪PVX


美国DAKOTA ULTRASonICS 公司PVX 高精密测厚仪有明显优点:

- 可调方波脉冲可满足高分辨率和穿透深度等方面的要求

- 具有多种视场选择,包括射频显示、检波、时基B-扫描和大尺寸数显

- 时基B-扫描显示被测材料的断面,常用于显示被测材料底面的轮廓

- 分辨率可调

- 可选配多种单晶探头,应用于不

同的用途

- 内置AGC 硬件的增益用于多回波和穿透涂层测量

- 一点和两点校准方式,或从材料列表中选择声速

- 6 个出厂设置和48 个用户自定义设置

- 具有字母数字存储器,可满足用户报告需要

- 高速扫描功能每秒可测量32 次。将探头从被测材料移开时,将显示扫描测量的最小值

- 具有上下限视听报警功能

- 利用搜索功能定位检测点,自动调整显示传送信号进入视场

- 用Windows PC 软件将数据传送的计算机或从计算机传送到PVX


A/B 扫描高精密超声波测厚仪PVX

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